標準編號: GB/T 5170.9-2008 中文標準名稱(chēng): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 太陽(yáng)輻射試驗設備 代替標準號: GB/T 5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 太陽(yáng)輻射試驗設備, 標準簡(jiǎn)介: GB/T5170的本部分規定了太陽(yáng)輻射試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。 本部分適用于對GB/T2423.24 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗SA:模擬地 面上的太陽(yáng)輻射》所用試驗設備的檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。 本部分也適用于類(lèi)似試驗設備的檢驗。 標準分類(lèi)號: 19.040 中國標準分類(lèi)號: K04 標準狀態(tài): 現行 標準目錄: 前言…………………………………………………… Ⅰ 1 范圍……………………………………………… 1 2 規范性引用文件………………………………… 1 3 術(shù)語(yǔ)和定義……………………………………… 1 4 檢驗項目………………………………………… 1 5 檢驗用主要儀器及要求………………………… 1 6 檢驗負載………………………………………… 2 7 檢驗條件………………………………………… 2 8 檢驗方法………………………………………… 2 9 數據處理結果與檢驗結果……………………… 6 10 檢驗周期……………………………………… 6 附錄A (規范性附錄) 檢驗項目的選擇………… 7 引用標準: 下列文件中的條款通過(guò)GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本適用于本部分。 GB/T2423.24 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗SA:模擬地面上的太陽(yáng)輻射(GB/T2423.24—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射,IDTIEC60068-2-5:1975 環(huán)境試驗 第2-5部分:試驗 試驗Sa:地面上的模擬太陽(yáng)輻射) GB/T5170.1—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則 GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備 GB/T16839.1 熱電偶 第1部分:分度表(GB/T16839.1—1997 熱電偶 第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995 熱電偶 第1部分:參考表) IEC60751 工業(yè)鉑電阻敏感元件 標準關(guān)注次數: 39次 標準上傳日期: 2009-10-22 發(fā)布日期: 2008-06-16 實(shí)施日期: 2009-03-01 發(fā)布日期: 1985-05-07 英文標準名稱(chēng): Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products - Solar radiation testing equipments 采用標準: 無(wú) 標準類(lèi)別: 國家標準 標準頁(yè)數: 12頁(yè) 主管部門(mén): 604-2 中國電器工業(yè)協(xié)會(huì ) 歸口單位: 469-8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會(huì ) 起草人: 伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良 起草單位: 信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所 |